激光三角位移传感器P系列 激光三角位移传感器M系列 光谱共焦位移传感器C系列 分光干涉薄膜测厚传感器I系列 激光三维轮廓仪E系列 |
TS - P450
• 采样频率最高可达到 160 kHz；
• 测量范围最长 500 mm；
• 重复精度最高 8 μm；
• 支持以太网、485 串口、模拟信号等多种输出接口 点击图片查看更多
• 采样频率最高可达到 160 kHz；
• 测量范围最长 500 mm；
• 重复精度最高 8 μm；
• 支持以太网、485 串口、模拟信号等多种输出接口 点击图片查看更多
TS-P20U 短量程 高精度
●采样频率最高可达到160kHz
●测量范围±3mm
●重复精度最高0.01μm
●支持以太网、485 串口、模拟信号等多种输出接口
●采样频率最高可达到160kHz
●测量范围±3mm
●重复精度最高0.01μm
●支持以太网、485 串口、模拟信号等多种输出接口
TS - P1500
• 采样频率最高可达到 160 kHz
• 测量范围最长 2000 mm
• 重复精度最高 30 μm,支持以太网、485 串口、模拟信号等多种输出接口
• 采样频率最高可达到 160 kHz
• 测量范围最长 2000 mm
• 重复精度最高 30 μm,支持以太网、485 串口、模拟信号等多种输出接口
TS - P2250H
• 采样频率最高可达到 160 kHz
• 测量范围最长 1300 mm
• 重复精度最高 50 μm
•支持以太网、 485 串口、模拟信号等多种输出接口
• 采样频率最高可达到 160 kHz
• 测量范围最长 1300 mm
• 重复精度最高 50 μm
•支持以太网、 485 串口、模拟信号等多种输出接口
TS - P1000H
• 采样频率最高可达到 160 kHz
•测量范围最长 1000 mm
•重复精度最高 12 μm
•支持以太网、485 串口、模拟信号等多种输出接口
• 采样频率最高可达到 160 kHz
•测量范围最长 1000 mm
•重复精度最高 12 μm
•支持以太网、485 串口、模拟信号等多种输出接口
TS - P400
• 采样频率最高可达到 160 kHz
• 测量范围最长 200 mm
• 重复精度最高 3 μm
• 支持以太网、485 串口、模拟信号等多种输出接口
• 采样频率最高可达到 160 kHz
• 测量范围最长 200 mm
• 重复精度最高 3 μm
• 支持以太网、485 串口、模拟信号等多种输出接口
TS-M30
参考距离：30mm
测量范围：±5mm
重复精度：0.35μm
线性误差：＜±8μm
参考距离：30mm
测量范围：±5mm
重复精度：0.35μm
线性误差：＜±8μm
TS-M50
参考距离：50mm
测量范围：±10mm
重复精度：0.6μm
线性误差：＜±15μm
参考距离：50mm
测量范围：±10mm
重复精度：0.6μm
线性误差：＜±15μm
TS-M85
参考距离：85mm
测量范围：±20mm
重复精度：1.3μm
线性误差：＜±40μm
参考距离：85mm
测量范围：±20mm
重复精度：1.3μm
线性误差：＜±40μm
TS-M150
参考距离：150mm
测量范围：±75mm
重复精度：3.5μm
线性误差：＜±150μm
参考距离：150mm
测量范围：±75mm
重复精度：3.5μm
线性误差：＜±150μm
TS-M250
参考距离：250mm
测量范围：±150mm
重复精度：10μm
线性误差：＜±450μm
参考距离：250mm
测量范围：±150mm
重复精度：10μm
线性误差：＜±450μm
TS-M400
参考距离：400mm
测量范围：±200mm
重复精度：15μm
线性误差：＜±600μm
参考距离：400mm
测量范围：±200mm
重复精度：15μm
线性误差：＜±600μm
TS-C100B
●重复精度3nm、线性误差±0.03μm
●轻松应对高透明、高反光、低反射率、粗糙等不同形状材
●重复精度3nm、线性误差±0.03μm
●轻松应对高透明、高反光、低反射率、粗糙等不同形状材
TS-C400
●重复精度12nm、线性误差±0.12μm
●轻松应对高透明、高反光、低反射率、粗糙等不同形状材
●重复精度12nm、线性误差±0.12μm
●轻松应对高透明、高反光、低反射率、粗糙等不同形状材
TS-CR1500N（径向出光）
●重复精度100nm、线性误差±0.75μm
●轻松应对高透明、高反光、低反射率、粗糙、内外径等不同形状材
●重复精度100nm、线性误差±0.75μm
●轻松应对高透明、高反光、低反射率、粗糙、内外径等不同形状材
TS-C600
●重复精度16nm、线性误差±0.18μm
●轻松应对高透明、高反光、低反射率、粗糙等不同形状材
●重复精度16nm、线性误差±0.18μm
●轻松应对高透明、高反光、低反射率、粗糙等不同形状材
TS-C2400（大角度）
●重复精度45nm、线性误差±0.48μm
●轻松应对高透明、高反光、低反射率、粗糙等不同形状材
●重复精度45nm、线性误差±0.48μm
●轻松应对高透明、高反光、低反射率、粗糙等不同形状材
TS-C3000
●重复精度100nm、线性误差±0.6μm
●轻松应对高透明、高反光、低反射率、粗糙等不同形状材
●重复精度100nm、线性误差±0.6μm
●轻松应对高透明、高反光、低反射率、粗糙等不同形状材
分光干涉薄膜测厚传感器TS-IVP-T50
是一款干涉测厚传感头
●重复精度：1nm；
●工作参考距离：50mm；量程：±2mm；
●最大测量角度：±3°
是一款干涉测厚传感头
●重复精度：1nm；
●工作参考距离：50mm；量程：±2mm；
●最大测量角度：±3°
IVCS-100控制器，可连接传感头：1个，
●采样频率最大：10 kHz，
●可测厚度范围：约2μm~100μm（折射率1.5时）。
●采样频率最大：10 kHz，
●可测厚度范围：约2μm~100μm（折射率1.5时）。
分光干涉薄膜测厚传感器IVP-T10-UV-VIS
是一款干涉测厚传感头
●重复精度：1nm；
●工作参考距离：非聚焦探头；量程：建议安装距离5-10mm；
●最大测量角度：±10°
是一款干涉测厚传感头
●重复精度：1nm；
●工作参考距离：非聚焦探头；量程：建议安装距离5-10mm；
●最大测量角度：±10°
IVCS-50控制器，可连接传感头：1个，
●采样频率最大：10 kHz，
●可测厚度范围：约1μm~50μm（折射率1.5时）。
●采样频率最大：10 kHz，
●可测厚度范围：约1μm~50μm（折射率1.5时）。
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型号：TS-E7250
●参考距离：250mm
●Z轴高度：488.4mm
●Z轴重复精度：6μm
●参考距离：250mm
●Z轴高度：488.4mm
●Z轴重复精度：6μm
型号：TS-E8040
●参考距离：41.3mm
●Z轴高度：24.3mm
●Z轴重复精度：0.4μm
●参考距离：41.3mm
●Z轴高度：24.3mm
●Z轴重复精度：0.4μm
型号：TS-E7800
●参考距离：762.9mm
●Z轴高度：1283.2mm
●Z轴重复精度：15μm
●参考距离：762.9mm
●Z轴高度：1283.2mm
●Z轴重复精度：15μm
型号：TS-E7300
●参考距离：336.4mm
●Z轴高度：356.5mm
●Z轴重复精度：2μm
●参考距离：336.4mm
●Z轴高度：356.5mm
●Z轴重复精度：2μm
型号：TS-E7100
●参考距离：103.5mm
●Z轴高度：199.5mm
●Z轴重复精度：1.2μm
●参考距离：103.5mm
●Z轴高度：199.5mm
●Z轴重复精度：1.2μm
型号：TS-E8020
●参考距离：17.7mm
●Z轴高度：6.9mm
●Z轴重复精度：0.2μm
●参考距离：17.7mm
●Z轴高度：6.9mm
●Z轴重复精度：0.2μm
产品中心
半导体材料
在半导体行业中，位移传感器主要用于测量半导体设备中的微小位移量。如：晶圆测量、机械臂控制、检测工具、清洗设备等。总之，位移传感器在提高制造效率和产品质量、降低生产成本和产品故障率的同时，也可以提高工作安全性。
新能源
在新能源行业中，位移传感器主要用于测量和控制各种新能源设备的位置和运动状态。如：风力发电、太阳能发电、 电动汽车、氢能源等。位移传感器能够提高能源设备的效率和可靠性，降低运行成本和故障率，同时提高能源的利用效率和环境友好性。
精密加工
在精密制造行业中，位移传感器主要用于测量和控制各种精密设备的位置和运动状态。如：机床加工、精密测量、光学装备、电子设备等。总之，可以提高制造效率和产品质量，降低生产成本和产品故障率，同时提高工作安全性。
行业应用
新闻资讯
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苏州创视智能技术有限公司是一家专业从事精密测量传感器研发、生产、销售及服务的技术研发驱动型企业，由来自国内外一流高校的博士、硕士团队创立于苏州市吴中区木渎经济开发区。公司秉承“技术研发驱动，应用需求导向，服务客户优先”的原则，致力于成为“中华自主品牌”的“精密测量专家”，愿同各方一道，为国内高端仪器仪表及精密传感器的产业发展添砖加瓦。自成立至今，公司已累计申请各类知识产权数十项。公司获评为东吴创业领军人才企业、姑苏创业领军人才企业，并承担江苏省重点研发计划等项目。创视智能持续坚持技术创新，快速响应客户应用需求，以精密测量核心技术能力，助力中国智能制造升级。
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