创视智能
登录/注册

【行业应用】测量CMOS的倾斜和缝隙

发表时间:2021-07-09 23:20








TS-C系列光谱共焦位移传感器系列可同时测量多个厚度尺寸,搭载CMOS前,可测量角度与单元盖板玻璃间的缝隙。


联系电话:13902964721                             联系邮箱:service@tronsight.com                                联系地址:江苏省苏州市吴中区珠江路888号