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【行业应用】测量CMOS的倾斜和缝隙
发表时间:2021-07-09 23:20
TS-C系列
光谱共焦位移传感器
系列可同时测量多个厚度尺寸,搭载CMOS前,可测量角度与单元盖板玻璃间的缝隙。
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