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【行业应用】测量CMOS的倾斜和缝隙

发表时间：2021-07-09 23:20








TS-C系列光谱共焦位移传感器系列可同时测量多个厚度尺寸，搭载CMOS前，可测量角度与单元盖板玻璃间的缝隙。


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