创视
智能
首页
Home
产品中心
Nav
解决方案
Nav
服务支持
Nav
加盟合作
Nav
新闻资讯
Nav
关于我们
Nav
激光三角位移传感器
光谱共焦位移传感器
白光干涉薄膜测厚传感器
学术科研
精密制造
电子行业
汽车行业
金属行业
半导体行业
新能源行业
市政检测行业
技术服务
下载中心
公司介绍
资格证书
联系我们
登录/注册
【行业应用】掩膜高度控制与玻璃基板厚度测量
发表时间:2021-07-09 23:21
光谱共焦位移传感器
测量到掩膜的距离并将其调整到最佳高度,然后在玻璃基板通过其上时测量厚度。
上一篇
【行业应用】加热器内托盘膨胀测量
下一篇
【行业应用】测量硬盘碟片和磁头的间距
分享到:
联系电话:13902964721 联系邮箱:service@tronsight.com 联系地址:江苏省苏州市吴中区珠江路888号