【公司新闻】CIOE | 创视智能亮相中国光博会，诚邀参观！发表时间：2022-08-23 11:47
01 参观方式 2023年9月6-8日 深圳国际会展中心（宝安新馆） 6号馆，展位号：6E46、6E47 共同期待创视智能将会带来哪些科技展品！
02 展品介绍 创视智能TS-P系列激光三角位移传感器
TS-P系列激光三角位移传感器能够实现0.02 µm的重复精度、±0.02% of F.S.的线性精度、160kHz的测量速度，支持485、模拟量、外部电平触发、USB、以太网的数据传输接口，其中前三种可以直接从探头接出。产品被广泛应用于3C电子、半导体光伏、新能源、汽车制造、市政检测等行业。 产品型号支持根据客户需求定制，定制参数范围包括参考距离10~2500mm、测量范围5~2500mm、重复精度20ppm of F.S.、线性度低于±0.05% of F.S.、采样频率最高160kHz。 创视智能TS-C系列光谱共焦位移传感器
TS-C系列光谱共焦位移传感器能够实现0.012 µm的重复精度、±0.02% of F.S.的线性精度、10kHz的测量速度、以及±65°的测量角度，能够适应镜面、透明、半透明、膜层、金属粗糙面、多层玻璃等材料表面，也能测量管道、深孔的内外径。支持485、USB、以太网、模拟量的数据传输接口。 产品型号支持根据客户需求定制，定制参数范围包括参考距离1~500mm，测量范围0.1~50mm，测量角度±5°~65°，光斑直径1~100 µm，横向分辨率0.5~50 µm，静态噪声4~2000nm，采样频率最高30kHz。 创视智能TS-ITS系列白光干涉测厚传感器
TS-IT系列白光干涉测厚传感器能够实现1nm的重复精度，50mm参考距离，±2mm测量范围，<±20nm线性误差，它可以用于测量涂层、薄膜、玻璃等薄层材料的厚度。支持485、USB、以太网、模拟量的数据传输接口。 白光干涉测厚传感器是常用于测量透明物体厚度的技术，其原理基于干涉现象，利用光的干涉来实现高精度的厚度测量。传感器通过发射一束白光光源照射在待测物体表面，光线在物体内部不同层面的表面发生反射，从而形成明暗相间的干涉条纹。干涉条纹的光谱信息及间距尺寸与物体的厚度有关，因此可以通过测量其光谱分布和干涉图像来计算获得被测物体的厚度。 白光干涉测厚传感器具有高精度、快速测量、非接触等优点，广泛应用于工业生产中的厚度测量领域。 创视智能TS-E系列线激光轮廓扫描仪
TS-E系列线激光轮廓扫描仪能够实现2048轮廓点数，30-1500mm的测量距离、±0.02% of F.S. Z向超高线性精度，支持485、模拟量、外部电平触发、USB、以太网的数据传输接口，其中前三种可以直接从探头接出。线激光轮廓扫描仪以其广泛的环境适应性，超高的检测频率和精度，被广泛应用于手机检测，机械加工、轮胎检测、汽车制造、精密仪器、点胶机、铁路铁轨检测以及科研教学等领域。 线激光轮廓扫描仪也可被称为线激光轮廓传感器、2D激光扫描传感器等。采用激光三角反射式原理，采集不同材质表面的二维轮廓信息。通过特殊的透镜组，激光束被放大形成一条静态激光线投射到被测物体表面上。激光线在被测物体表面形成漫反射，反射光透过高质量光学系统，被投射到敏感感光矩阵上。除了传感器到被测表面的距离信息（Z轴），控制器还可以通过图像信息计算得出沿着激光线的位置信息（X轴）。以传感器为原心的二维坐标系内，轮廓仪测量输出一组二维坐标值。移动被测物体或轮廓仪探头，就可以得到一组三维测量值。 03 企业介绍
创视智能自主研发的高精度光谱共焦位移传感器和激光三角法位移传感器，性能指标达国际一流水平，可实现对国外同类产品的替代，产品已被广泛应用于工业自动化、半导体、新能源、消费电子、市政工程、科研、军工等多个领域。 自成立至今，公司已累计申请各类知识产权数十项。公司获评为东吴创业领军人才企业、姑苏创业领军人才企业，并承担江苏省重点研发计划等项目。创视智能持续坚持技术创新，快速响应客户应用需求，以精密测量核心技术能力，助力中国智能制造升级。
核心能力△ |
