【行业应用】光谱共焦测量光伏板硅片的厚度方法
2022-12-29 08:50 创视智能
0 引言
本次测量场景用的是创视智能TS-C系列光谱共焦传感器和CCS控制器，TS-C系列光谱共焦位移传感器能够实现0.025 µm的重复精度，±0.02% of F.S.的线性精度，10kHz的测量速度，以及±60°的测量角度，能够适应镜面、透明、半透明、膜层、金属粗糙面、多层玻璃等材料表面，支持485、USB、以太网、模拟量的数据传输接口。
1.光伏板硅片厚度测量方法
下期为大家讲解硅片的栅线厚度测量方法，有疑问的可以联系我们哦！
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