【行业应用】测量用于Z轴自动对焦

点击关注我们！在现代电子器件的微型化进程中，超薄导电薄膜已经成为了实现柔性显示、可穿戴传感、光伏电极等关键技术的核心材料。与传统的厚金属层不同，这类薄膜的厚度往往只有几微米甚至达到纳米。厚度的微小变化会在原子尺度上显著改变电子的运行路径，从而导致电阻率出现非线性、甚至异常的状态。因此对超薄导电薄膜的厚度进行合理的控制就显得至关重要。因此小创今天将阐述厚度对电阻率的决定机制以及如何科学测量厚度...

点击关注我们！柔性电子器件对薄膜的厚度要求极为严格，往往需要在纳米至微米尺度上实现均匀、可重复的沉积。薄膜厚度直接决定器件的电学阻抗、光学透射率以及机械柔韧性，稍有偏差就可能导致信号失真、功耗上升或失效。随着可穿戴传感、柔性显示和柔性光伏等应用的快速发展，传统的批量沉积工艺已难以满足大面积、低成本且高精度的需求。因此，如何在生产线上实现对超薄薄膜厚度的精准控制，成为柔性电子制造的核心技术挑战...

点击关注我们！硅通孔技术是实现三维集成电路的关键支柱。在TSV制造流程中，准确测量通孔深度对于刻蚀终点控制、侧壁绝缘层沉积、金属填充均匀性及最终器件可靠性至关重要。然而，TSV制造涉及复杂的工艺步骤，如光刻胶残留、硬掩膜层、以及必须沉积的介质绝缘层。这些位于通孔侧壁和底部的多层薄膜堆叠会显著改变入射光的传播路径和反射特性，从而导致基于光学原理的无损测深技术更具挑战性。TSV深度测量重要性与薄...

点击关注我们！在工业精密测量领域，激光三角位移传感器凭借非接触、高精度、高采样频率等优势，已成为表面形貌检测、厚度测量与动态位移监控等高精密应用中的核心设备。然而，传统采用红色激光光源的传感器面对高反射金属、低反射率材料、多层复合材料等特殊被测物时，常面临信号峰值饱和、穿透误差、低对比度等问题。近年来，随着半导体激光技术的进步，蓝色激光（405nm波长）在精密测量领域能够发挥基于其物理特性和...

点击关注我们！在半导体制造中，晶圆厚度均匀性是衡量制造工艺水平和产品性能的关键指标。尤其在化学机械抛光（CMP） 这一至关重要的工序中，实现晶圆表面的超高均匀性，无论是厚度、平坦度还是表面形貌，都直接关系到后续光刻、薄膜沉积等工序的良率和最终器件的电学性能。因此，使用专门测量厚度均匀性的检测设备可帮助晶圆厂商在生产晶圆时事半功倍。今天，小创将为您详解晶圆抛光中的均匀性挑战与优化。晶圆厚度与平...